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Il porta campioni STEM utilizza la luminosità della sorgente FEG per lavorare in trasmissione su campioni molto sottili, montati sulla classica griglia TEM da 3mm, con la possibilità di ottenere immagini ad alta risoluzione sull’intero intervallo di tensione di accelerazione, anche a partire da 1 kV.
A seconda della modalità di imaging, diversi tipi di segnali possono essere rilevati: campo chiaro standard (BF), campo scuro (DF) e campo scuro anulare ad alto angolo (HAADF). Sono inoltre disponibili della modalità personalizzate, essendo il rivelatore composto da 11 segmenti che possono essere selezionati individualmente dall'utente.
L’elettronica è inserita all’interno dello stesso porta campioni, che viene riconosciuto automaticamente dallo strumento una volta inserito, senza bisogno di collegamento via cavo. L’interfaccia smart attiva automaticamente la modalità STEM ed è possibile ottenere immagini in meno di un minuto.
Il porta campioni STEM per il SEM da banco Phenom Pharos espande le capacità di imaging, rendendo lo strumento ancora più versatile ed aprendo a nuove applicazioni come nanoparticelle e materiali biologici.
Fig 1: imaging in campo chiaro (BF)
Fig.2 Imaging in campo scuro (DF)
Fig3. Imaging in campo scuro anulare ad alto angolo (HAADF)
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