I Microscopi Elettronici a Scansione della serie Phenom Pro sono SEM compatti in grado di garantire immagini di qualità straordinaria in tempi rapidissimi, con un'esperienza d'uso senza eguali. La generazione 5 dei modelli Pro e ProX ne aumenta ulteriormente le prestazioni, migliorando la risoluzione di oltre il 20%, ed aggiunge nuove funzionalità rendendo gli strumenti ancora più versatili. Grazie alla sorgente di elettroni ad elevata luminosità e durata in CeB6, il Phenom Pro fornisce immagini di qualità eccezionale con un intervento minimo da parte dell'operatore. Il detector per elettroni retrodiffusi (BSD) e la catena di rilevamento sono ottimizzati per restituire risultati con immagini dall'impareggiabile rapporto segnale-rumore su un'ampia varietà di campioni e condizioni di lavoro. Il Detector di elettroni secondari (SED) è disponibile come opzione. Tutti i modelli di SEM compatti Phenom sono equipaggiati da sempre con una camera ottica a colori per la navigazione sul campione.
Il modello Phenom ProX unisce qualità d'immagine, semplicità d'uso e velocità del Phenom Pro alla microanalisi EDS (o EDX). Il Phenom ProX è un SEM compatto e costituisce il sistema definitivo per imaging e analisi EDS. Con il Phenom ProX è quindi possibile esaminare la struttura del campione e determinarne la composizione elementale essendo equipaggiato con detector EDS (o EDX) specificamente progettato e completamente integrato. Grazie all'opzione 'Elemental image mapping' è possibile effettuare la mappatura completa degli elementi all'interno del campione. L'algoritmo di mappatura fornisce in tempo reale la mappa dell'elemento selezionato mentre viene registrato lo spettro di ogni pixel: questo consente di aggiungere o rimuovere degli elementi a qualsiasi momento durante il processo di mappatura, in modo da ottenere una visione molto chiara ed accurata degli elementi all'interno del campione.
I SEM della serie Phenom Pro possono essere implementati in qualsiasi momento con il pacchetto Pro Suite, mentre i SEM Phenom ProX la includono di default. Il pacchetto Pro Suite offre diverse applicazioni software che permettono l'analisi integrata ed automatizzata delle immagini:
E' disponibile un'ampia gamma di sample holders per facilitare il caricamento nel Phenom di ogni tipologia di campioni, dai materiali umidi a quelli non conduttivi o di forme particolari. E' inoltre disponibile un porta-campione che permette tilting e rotazione (vedere sezione Accessori).
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PORTA CAMPIONI STANDARD Porta campioni per la massima risoluzione. Incluso in ogni fornitura di microscopi elettronici a scansione da banco Phenom. Ottimizzato per ottenere le migliori immagini su campioni (anche 3D) montati su Pin Stub standard. Ospita campioni fino a 25mm di diametro e 30mm di altezza. |
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PORTA CAMPIONI “CHARGE REDUCTION” Questo porta campioni è progettato per eliminare preparazioni (tipo metallizzazione) extra su campioni non conduttivi riducendo la carica degli stessi. In questo modo si possono ottenere facilmente e rapidamente immagini su campioni quali: polimeri, organici, carta, ceramici, vetro etc. |
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PORTA CAMPIONI “MICRO TOOL” Con il porta campioni “micro tool” è possibile ottenere immagini di campioni dalla forma assialmente allungata (punte di trapani, aghi per iniezioni, tool di macinazione etc) senza bisogno di modificarli. Immagini dei coatings e degli angoli di taglio sono possibili ruotando e inclinando la regione di interesse senza smontare il campione. |
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PORTA CAMPIONI “METALLURGICAL” La base di questo porta campioni è la stessa di quello standard, con la differenza di poter ospitare campioni montati su resina e inserti. Ospita campioni fino a 32mm di diametro e 30mm di altezza. |
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PORTA CAMPIONI “METALLURGICAL CHARGE REDUCTION” Questo porta campioni elimina la necessità di preparazioni extra (metallizzazione) su campioni montati su resine non conduttive. In questo modo ottenere immagini è rapido e senza difficoltà. Rispetto al Porta campioni standard è possibile ottenere immagini fino ad 8 ingrandimenti più elevati prima che l’effetto della carica del campione diventi visibile. |
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PORTA CAMPIONI MOTORIZZATO “TILT & ROTATION” Il porta campioni motorizzato “tilt & rotation” consente l’analisi di un campione da tutti i lati visibili e un immagine 3D unica. Rivelare tutte le caratteristiche nascoste del campione è quindi possibile, sia che esse siano fori, linee o strutture multi-strato. Il “tilt & rotation” è un cosidetto porta campioni 'intelligente' la cui scheda d'interfaccia riconosce automaticamente il porta campioni collegato e trasferisce direttamente i comandi allo stesso. La rotazione è continua a 360°, il campo di inclinazione va da -10° a +45°. |
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PORTA CAMPIONI CON CONTROLLO DI TEMPERATURA Il porta campioni con controllo di temperatura è stato sviluppato per studiare campioni delicati e sensibili al vuoto quali gli alimenti, i biologici o coatings organici. |
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PORTA CAMPIONI ELECTRICAL FEEDTHROUGH Consente di connettere delle sonde elettriche al camione |
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Accessori vari per la preparazione del campione |
20 Novembre 2019 - Cinisello Balsamo.
Un'occasione unica di scoprire tecniche di caratterizzazione delle fibre, filtri e membrane come la porometria o la microscopia elettronica SEM, insieme a tecniche di produzione di nanomembrane.
70 anni fa la Philips ha costruito il primo microscopio elettronico commerciale, rendendo di fatto la tecnica disponibile per i ricercatori di tutto il mondo. In questo articolo faremo una breve escursione lungo i 70 anni della microscopia elettronica ponendo particolare attenzione al mondo Phenom.
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Nella nota tecnica n°1 "I principi base dell'analisi granulometrica" abbiamo visto come ciascuna tecnica di granulometria produca una diversa risposta, poiché è diversa la dimensione della particella che viene presa in considerazione. Nelle nota tecnica che segue prenderemo in esame vantaggi e svantaggi dei metodi più comuni di analisi granulometrica.
A mano a mano che la tecnologia della produzione additiva prende sempre più piede, la capacità di analizzare particelle diventa sempre più importante. Oltre alla massimizzazione dei rendimenti, i produttori devono infatti garantire che i loro processi forniscano costantemente particelle di dimensioni e morfologia appropriate. Vediamo come utilizzare il sistema di dispersione a vuoto Nebula™ per disperdere campioni di polvere allo scopo di analizzare particelle singole con il software della Thermo Fisher Scientific.
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Presentazione del ns. specialista Fabio De Simone sull'Imaging con microscopia elettronica a scansione SEM delle polveri metalliche per uso Additive Manufacturing (evento del 30/10/2018 a Sesto San Giovanni)
10 Febbraio 2020
Trento
30 Ottobre 2018
Sesto San Giovanni (MI)
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