SEM COMPATTO AD ALTE PRESTAZIONI e MICROANALISI EDX
Il modello Phenom ProX unisce qualità d'immagine, semplicità d'uso e velocità del Phenom Pro alla microanalisi EDS (o EDX). Il Phenom ProX è un SEM compatto e costituisce il sistema definitivo per imaging e analisi EDS. Con il Phenom ProX è quindi possibile esaminare la struttura del campione e determinarne la composizione elementale essendo equipaggiato con detector EDS (o EDX) specificamente progettato e completamente integrato. Grazie all'opzione 'Elemental image mapping' è possibile effettuare la mappatura completa degli elementi all'interno del campione. L'algoritmo di mappatura fornisce in tempo reale la mappa dell'elemento selezionato mentre viene registrato lo spettro di ogni pixel: questo consente di aggiungere o rimuovere degli elementi a qualsiasi momento durante il processo di mappatura, in modo da ottenere una visione molto chiara ed accurata degli elementi all'interno del campione.
I SEM della serie Phenom Pro possono essere implementati in qualsiasi momento con il pacchetto Pro Suite, mentre i SEM Phenom ProX la includono di default. Il pacchetto Pro Suite offre diverse applicazioni software che permettono l'analisi integrata ed automatizzata delle immagini:
- Automated Image Mapping, per mappatura di immagini
- Remote UI, per il controllo remoto dello strumento
- Time Lapse Recorder, per l'acquisizione di filmati
- 3D Roughness Reconstruction, per misure di rugosità superficiale
- Fibermetric, per la caratterizzazione di fibre
- Porometric, per dimensione e forma dei pori
- Particlemetric, per dimensione, numero e forma di particelle (è disponibile l'accessorio Nebula per la dispersione delle polveri)
E' disponibile un'ampia gamma di sample holders per facilitare il caricamento nel Phenom di ogni tipologia di campioni, dai materiali umidi a quelli non conduttivi o di forme particolari. E' inoltre disponibile un porta-campione che permette tilting e rotazione (vedere sezione Accessori).
Specifiche
- Campo di ingrandimenti 80 - 150.000x
- Risoluzione ≤ 8nm
- Campo di elementi rilevabili: B-Am
- Sorgente di lunga durate e elevata luminosità (CeB6)
- Campo di voltaggi variabile : da 4.8kV a 15kV
- Ottenimento immagine SEM dal caricamento del campione: <30 secondi
- Camera a colori per la navigazione sul campione: zoom 20 – 120x
- Basso consumo energetico
- Software Pro Suite inclusa nel modello PROX
- Microanalisi EDX inclusa nel modello PROX
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PORTA CAMPIONI STANDARD
Porta campioni per la massima risoluzione. Incluso in ogni fornitura di microscopi elettronici a scansione da banco Phenom. Ottimizzato per ottenere le migliori immagini su campioni (anche 3D) montati su Pin Stub standard. Ospita campioni fino a 25mm di diametro e 30mm di altezza.
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PORTA CAMPIONI “CHARGE REDUCTION”
Questo porta campioni è progettato per eliminare preparazioni (tipo metallizzazione) extra su campioni non conduttivi riducendo la carica degli stessi. In questo modo si possono ottenere facilmente e rapidamente immagini su campioni quali: polimeri, organici, carta, ceramici, vetro etc.
Rispetto al porta campioni standard è possibile ottenere immagini fino ad 8 ingrandimenti più elevati prima che l’effetto della carica del campione diventi visibile. E’ possibile ottenere immagini di materiali non conduttivi nel loro stato naturale ottenendo utili informazioni dal contrasto nella scala di grigi generato dal detector in back-scattering.
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PORTA CAMPIONI “MICRO TOOL”
Con il porta campioni “micro tool” è possibile ottenere immagini di campioni dalla forma assialmente allungata (punte di trapani, aghi per iniezioni, tool di macinazione etc) senza bisogno di modificarli. Immagini dei coatings e degli angoli di taglio sono possibili ruotando e inclinando la regione di interesse senza smontare il campione.
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PORTA CAMPIONI “METALLURGICAL”
La base di questo porta campioni è la stessa di quello standard, con la differenza di poter ospitare campioni montati su resina e inserti. Ospita campioni fino a 32mm di diametro e 30mm di altezza.
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PORTA CAMPIONI “METALLURGICAL CHARGE REDUCTION”
Questo porta campioni elimina la necessità di preparazioni extra (metallizzazione) su campioni montati su resine non conduttive. In questo modo ottenere immagini è rapido e senza difficoltà. Rispetto al Porta campioni standard è possibile ottenere immagini fino ad 8 ingrandimenti più elevati prima che l’effetto della carica del campione diventi visibile.
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PORTA CAMPIONI MOTORIZZATO “TILT & ROTATION”
Il porta campioni motorizzato “tilt & rotation” consente l’analisi di un campione da tutti i lati visibili e un immagine 3D unica. Rivelare tutte le caratteristiche nascoste del campione è quindi possibile, sia che esse siano fori, linee o strutture multi-strato. Il “tilt & rotation” è un cosidetto porta campioni 'intelligente' la cui scheda d'interfaccia riconosce automaticamente il porta campioni collegato e trasferisce direttamente i comandi allo stesso. La rotazione è continua a 360°, il campo di inclinazione va da -10° a +45°.
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PORTA CAMPIONI CON CONTROLLO DI TEMPERATURA
Il porta campioni con controllo di temperatura è stato sviluppato per studiare campioni delicati e sensibili al vuoto quali gli alimenti, i biologici o coatings organici.
Il porta campioni è in grado di controllare la temperatura del campione e di conseguenza l’umidità che lo circonda. Ciò minimizza i possibili dannisul campione dovuti al fascio di elettroni ed al vuoto.
Il porta campioni con controllo di temperatura sfrutta un’effetto Peltier e consente di controllare la temperatura da -25°C a +50°C con un’accuratezza di ±1.5°C.
Ospita campioni fino a 25mm di diametro e 5mm di altezza.
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PORTA CAMPIONI ELECTRICAL FEEDTHROUGH
Consente di connettere delle sonde elettriche al camione
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Accessori vari per la preparazione del campione
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Il Dr. Dirk Duddeck, esperto nel campo della ricerca sugli impianti dentali, reputa la microscopia elettronica a scansione (SEM) uno strumento fondamentale per identificare gli impianti di scarsa qualità, migliorare i risultati clinici, e proteggere la salute dei pazienti. In questo lavoro, il Dr. Duddeck spiega come il SEM abbia rivoluzionato gli studi sugli impianti dentali e come possa aiutare i produttori a migliorare sensibilmente la pulizia e la sicurezza degli stessi.
20 Novembre 2019 - Cinisello Balsamo.
Un'occasione unica di scoprire tecniche di caratterizzazione delle fibre, filtri e membrane come la porometria o la microscopia elettronica SEM, insieme a tecniche di produzione di nanomembrane.
70 anni fa la Philips ha costruito il primo microscopio elettronico commerciale, rendendo di fatto la tecnica disponibile per i ricercatori di tutto il mondo. In questo articolo faremo una breve escursione lungo i 70 anni della microscopia elettronica ponendo particolare attenzione al mondo Phenom.
Vi consigliamo l’articolo pubblicato Sulla rivista scientifica Microscopie, dedicato al primo SEM compatto con Sorgente FEG
Nella nota tecnica n°1 "I principi base dell'analisi granulometrica" abbiamo visto come ciascuna tecnica di granulometria produca una diversa risposta, poiché è diversa la dimensione della particella che viene presa in considerazione. Nelle nota tecnica che segue prenderemo in esame vantaggi e svantaggi dei metodi più comuni di analisi granulometrica.
A mano a mano che la tecnologia della produzione additiva prende sempre più piede, la capacità di analizzare particelle diventa sempre più importante. Oltre alla massimizzazione dei rendimenti, i produttori devono infatti garantire che i loro processi forniscano costantemente particelle di dimensioni e morfologia appropriate. Vediamo come utilizzare il sistema di dispersione a vuoto Nebula™ per disperdere campioni di polvere allo scopo di analizzare particelle singole con il software della Thermo Fisher Scientific.
Fino ad ora, non si era mai visto un microscopio elettronico a scansione (SEM) ad alto voltaggio con una sorgente Field Emission Gun (FEG). Perchè no? E perché può essere utile avere una sorgente FEG in un desktop SEM? Cerchiamo qui di fornire alcune risposte.
L'analisi SEM della superficie dei prodotti di stampa 3D consente di individuare i difetti sotto forma di interruzioni strutturali nell'area della superficie saldata. Tale fenomeno è da monitorare ed evitare perché le discontinuità strutturali dello strato superiore generano delle micro tacche. L'uso di un SEM compatto ha dimostrato di essere una tecnica valida per il controllo qualità del prodotto finito.
Imaging con SEM delle polveri metalliche per uso Additive Manufacturing
Presentazione del ns. specialista Fabio De Simone sull'Imaging con microscopia elettronica a scansione SEM delle polveri metalliche per uso Additive Manufacturing (evento del 30/10/2018 a Sesto San Giovanni)
20 Novembre 2019
Cinisello Balsamo
26 Giugno 2019
Milano - Lecco
30 Ottobre 2018
Sesto San Giovanni (MI)
12 Settembre 2018
Bologna
06 Novembre 2017
Padova, Modena, Torino
23 Maggio 2017
Cinisello Balsamo (MI)
25 Giugno 2015
Padova, Bologna, Torino, Perugia, Lecce
27 Maggio 2015
Portici (NA)
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