Una domanda?
Bisogno di aiuto?

Phenom Pharos

La rivoluzione nel mondo dei SEM

Il Phenom Pharos rappresenta una pietra miliare nella microscopia elettronica: è il primo SEM compatto a sorgente FEG. La sorgente FEG garantisce immagini ad alta risoluzione e qualità senza uguali, e il Phenom Pharos ne rende i vantaggi accessibili davvero a tutti. Come ogni SEM Phenom il Pharos si caratterizza per l’estrema semplicità d’uso, dall’installazione all’acquisizione dell’immagine, e per la velocità senza uguali. Il Phenom Pharos permette di acquisire immagini in tempi rapidissimi grazie al backscatter detector (BSD), e può essere equipaggiato anche con un detector di elettroni secondari (SED) o con un energy dispersive x-ray detector (EDX).

2019 Brochure Phenom Pharos

Il Phenom Pharos è il primo SEM compatto equipaggiato con sorgente ad emissione di campo che garantisce risoluzioni molto elevate oltre ad una brillanza tale da assicurare immagini di alta qualità ed ottimamente contrastate, risultando ottimale anche per l’acquisizione di spettri EDX.

Il Phenom Pharos mantiene il classico approccio dei SEM compatti Phenom, e assicura la possibilità di lavorare in maniera semplice, intuitiva e veloce. L’installazione del Phenom Pharos è estremamente semplice, basta posizionarlo su un tavolo, collegare i cavi ed accenderlo. Non servono né strutture né utenze particolari. Una volta introdotto il campione viene acquisita l’immagine ottica a colori per la navigazione, mentre il passaggio in modalità SEM impiega meno di 25 secondi. Grazie al nuovo design della colonna è quindi possibile ottenere immagini ad alta risoluzione (< 3 nm) ed effettuare microanalisi (per strumenti dotati di EDX) utilizzando la stessa distanza di lavoro.

La qualità dei detector permette di acquisire le immagini in tempi estremamente rapidi (<7 sec).

E' disponibile un'ampia gamma di accessori per facilitare il caricamento nel Pharos di ogni tipologia di campioni, dai materiali umidi a quelli non conduttivi o di forme particolari. E' inoltre disponibile un porta campioni che permette tilting e rotazione (vedere sezione Accessori). Anche per il microscopio elettronico Phenom Pharos è disponibile il pacchetto Pro Suite che comprende tutta una serie di applicazioni in grado di estendere il tipo di caratterizzazioni effettuabili:

  • Automated Image Mapping, per mappatura di immagini
  • Remote UI, per il controllo remoto dello strumento
  • Time Lapse Recorder, per l'acquisizione di filmati
  • 3D Roughness Reconstruction, per misure di rugosità superficiale
  • Fibermetric, per la caratterizzazione di fibre
  • Porometric, per dimensione e forma dei pori
  • Particlemetric, per dimensione, numero e forma di particelle (è disponibile l'accessorio Nebula per la dispersione delle polveri)

Specifiche tecniche:

  • Sorgente di elettroni: FEG
  • Range di ingrandimento: 200 - 1.000.000x
  • Risoluzione SEM: <3nm (15kV- SED), <4nm (15kV- BSD), <10 nm (3 kV - SED)
  • Campo di voltaggio: Defaut (5, 10 e 15 kV) - Modalità avanzata (nel range tra 2 kV e 15 kV)
  • Dimensione del campione: fino a 32mm (Ø), fino a 100 mm (h)
  • Stage motorizzato X-Y (escursione massima 18mm x 18mm)
  • Detectors: BSD (standard), SED (opzionale), EDX (opzionale)
  • Livelli di vuoto: Alto vuoto (1 Pa), Medio (10 Pa), Basso vuoto (60 Pa)
  • Camera a colori per la navigazione sul campione: zoom 20 – 134x
  • Ottenimento dell’immagine dal caricamento del campione: <25 secondi
  • Formato delle immagini: jpg, tiff, bitmap
  • Risoluzione delle immagini: fino a 2048x2048

PORTA CAMPIONI STANDARD

Porta campioni per la massima risoluzione. Incluso in ogni fornitura di microscopi elettronici a scansione da banco Phenom. Ottimizzato per ottenere le migliori immagini su campioni (anche 3D) montati su Pin Stub standard. Ospita campioni fino a 25mm di diametro e 30mm di altezza.

PORTA CAMPIONI “MICRO TOOL”

Con il porta campioni “micro tool” è possibile ottenere immagini di campioni dalla forma assialmente allungata (punte di trapani, aghi per iniezioni, tool di macinazione etc) senza bisogno di modificarli. Immagini dei coatings e degli angoli di taglio sono possibili ruotando e inclinando la regione di interesse senza smontare il campione.

   

PORTA CAMPIONI “METALLURGICAL”

La base di questo porta campioni è la stessa di quello standard, con la differenza di poter ospitare campioni montati su resina e inserti. Ospita campioni fino a 32mm di diametro e 30mm di altezza.

PORTA CAMPIONI MOTORIZZATO “TILT & ROTATION”

Il porta campioni motorizzato “tilt & rotation” consente l’analisi di un campione da tutti i lati visibili e un immagine 3D unica. Rivelare tutte le caratteristiche nascoste del campione è quindi possibile, sia che esse siano fori, linee o strutture multi-strato. Il “tilt & rotation” è un cosidetto porta campioni 'intelligente' la cui scheda d'interfaccia riconosce automaticamente il porta campioni collegato e trasferisce direttamente i comandi allo stesso. La rotazione è continua a 360°, il campo di inclinazione va da -10° a +45°.

PORTA CAMPIONI CON CONTROLLO DI TEMPERATURA

Il porta campioni con controllo di temperatura è stato sviluppato per studiare campioni delicati e sensibili al vuoto quali gli alimenti, i biologici o coatings organici.
Il porta campioni è in grado di controllare la temperatura del campione e di conseguenza l’umidità che lo circonda. Ciò minimizza i possibili dannisul campione dovuti al fascio di elettroni ed al vuoto.
Il porta campioni con controllo di temperatura sfrutta un’effetto Peltier e consente di controllare la temperatura da -25°C a +50°C con un’accuratezza di ±1.5°C.
Ospita campioni fino a 25mm di diametro e 5mm di altezza.

PORTA CAMPIONI ELECTRICAL FEEDTHROUGH

Consente di connettere delle sonde elettriche al campione.

Accessori vari per la preparazione del campione.

70 anni di microscopia elettronica: la storia dei SEM compatti Phenom della Thermo Scientific

70 anni fa la Philips ha costruito il primo microscopio elettronico commerciale, rendendo di fatto la tecnica disponibile per i ricercatori di tutto il mondo. In questo articolo faremo una breve escursione lungo i 70 anni della microscopia elettronica ponendo particolare attenzione al mondo Phenom.


Come implementare una sorgente FEG in un SEM compatto: storia della nascita di un prodotto

Vi consigliamo l’articolo pubblicato Sulla rivista scientifica Microscopie, dedicato al primo SEM compatto con Sorgente FEG


La preparazione del campione: come disperdere la polvere per ottenere immagini SEM ad alta risoluzione

A mano a mano che la tecnologia della produzione additiva prende sempre più piede, la capacità di analizzare particelle diventa sempre più importante. Oltre alla massimizzazione dei rendimenti, i produttori devono infatti garantire che i loro processi forniscano costantemente particelle di dimensioni e morfologia appropriate. Vediamo come utilizzare il sistema di dispersione a vuoto Nebula™ per disperdere campioni di polvere allo scopo di analizzare particelle singole con il software della Thermo Fisher Scientific.


Sorgente FEG: tutto quello che dovresti sapere

Fino ad ora, non si era mai visto un microscopio elettronico a scansione (SEM) ad alto voltaggio con una sorgente Field Emission Gun (FEG). Perchè no? E perché può essere utile avere una sorgente FEG in un desktop SEM? Cerchiamo qui di fornire alcune risposte.


Richiedi informazioni sul prodotto

Ho letto e compreso la Privacy Policy

 Accetto il trattamento dei dati per l'invio di informative tecniche e inviti agli eventi.