Il Phenom ParticleX è il SEM da banco ideale per eseguire analisi automatizzata alla ricerca di polveri e particelle delle quali è possibile determinare dimensione, forma e composizione tramite analisi EDX. Nella versione per Additive Manufacturing (AM) permette di caratterizzare le polveri metalliche sia per il controllo qualità della materia prima, anche alla ricerca di eventuali contaminanti, sia per poter valutare il grado di riutilizzo della polvere.
Nella versione per il Technical Cleaniness, il Phenom ParticleX rappresenta uno strumento estremamente efficacie per eseguire misure di pulizia tecnica in conformità alle normative vigenti (ISO16232 e VDA 19).
Il Phenom Particle X è equipaggiato con una camera da 100x100mm nella quale è possibile caricare fino a 30 stub contemporaneamente o 4 filtri da 47mm, e rappresenta uno strumento in grado di garantire la massima produttività anche grazie al meccanismo di caricamento brevettato che permette di partire con le analisi in soli 40 secondi.
| Produttore | Thermo Fisher Scientific |
|---|---|
| Tecnica | Microscopia elettronica a scansione (SEM) |
| Materiale | Polveri |
| Settore | Automotive/ Aerospaziale, Elettronica, Failure Analysis, Fibre, Filtri e Membrane, Additive Manufacturing - 3D Printing |
Il Phenom ParticleX AM/TC è un SEM compatto multifunzionale che garantisce risoluzione su scala nanometrica e permette di eseguire un’ampia gamma di analisi potendo determinare forma, dimensione e composizione di polveri e particelle in maniera completamente automatica ed in accordo a norme di settore, garantendo un controllo qualità veloce e accurato come richiesto dagli odierni standard produttivi.
Il SEM è equipaggiato con detector BSD ed EDX, ma è disponibile anche il SED come opzione. L’ampia camera associata ai tempi di caricamento minimi (40 secondi) permette di ottenere la massima produttività. Come tutti i SEM da banco Phenom utilizza la sorgente in CeB6 ad elevata brillanza che garantisce massima qualità d’immagine anche in basso vuoto (per campioni non conduttivi e non metallizzati), oltre alla possibilità di ottenere spettri EDS accurati anche in tempi molto brevi (indispensabile per analisi automatizzate che prevedano l’acquisizione di migliaia di particelle). La durata della sorgente, estremamente elevata, unitamente al fatto di poterne programmare la sostituzione permette di lavorare senza l’assillo di avere un fermo macchina improvviso.
Come da prassi Phenom la nuova interfaccia, ancora più semplice ed intuitiva, permette l’utilizzo del SEM anche ad operatori non esperti.
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In questa nota applicativa vedremo come la possibilità di accoppiare l’analisi d’immagine, e quindi le informazioni dimensionali e morfologiche, all’analisi composizionale tramite EDX rende il SEM uno strumento ideale per la caratterizzazione delle polveri metalliche utilizzate per l’Additive Manufacturing.
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Il SEM con EDS accoppiato ad un software d'immagine è uno strumento molto potente che permette l'analisi di polveri e filtri in maniera completamente automatizzata.
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