Una domanda?
Bisogno di aiuto?

Phenom ParticleX

Il Phenom ParticleX è il SEM ideale per eseguire analisi automatizzata alla ricerca di polveri e particelle delle quali è possibile determinare dimensione, forma e composizione tramite analisi EDX. Nella versione per Additive Manufacturing (AM) permette di caratterizzare le polveri metalliche sia per il controllo qualità della materia prima, anche alla ricerca di eventuali contaminanti, sia per poter valutare il grado di riutilizzo della polvere.
Nella versione, il Phenom ParticleX rappresenta uno strumento estremamente efficacie per eseguire misure di pulizia tecnica in conformità alle normative vigenti (ISO16232 e VDA 19).
Il Phenom Particle X è equipaggiato con una camera da 100x100mm nella quale è possibile caricare fino a 30 stub contemporaneamente o 4 filtri da 47mm, e rappresenta uno strumento in grado di garantire la massima produttività anche grazie al meccanismo di caricamento brevettato che permette di partire con le analisi in soli 40 secondi.

Brochure Phenom ParticleX AM Brochure Phenom ParticleX TC

Il Phenom ParticleX AM/TC è un SEM compatto multifunzionale che garantisce risoluzione su scala nanometrica e permette di eseguire un’ampia gamma di analisi potendo determinare forma, dimensione e composizione di polveri e particelle in maniera completamente automatica ed in accordo a norme di settore, garantendo un controllo qualità veloce e accurato come richiesto dagli odierni standard produttivi.
Il SEM è equipaggiato con detector BSD ed EDX, ma è disponibile anche il SED come opzione. L’ampia camera associata ai tempi di caricamento minimi (40 secondi) permette di ottenere la massima produttività. Come tutti i SEM Phenom utilizza la sorgente in CeB6 ad elevata brillanza che garantisce massima qualità d’immagine anche in basso vuoto (per campioni non conduttivi e non metallizzati), oltre alla possibilità di ottenere spettri EDS accurati anche in tempi molto brevi (indispensabile per analisi automatizzate che prevedano l’acquisizione di migliaia di particelle). La durata della sorgente, estremamente elevata, unitamente al fatto di poterne programmare la sostituzione permette di lavorare senza l’assillo di avere un fermo macchina improvviso.
Come da prassi Phenom la nuova interfaccia, ancora più semplice ed intuitiva, permette l’utilizzo del SEM anche ad operatori non esperti.

Specifiche del Phenom ParticleX:
  • Monitor a colori di ultima generazione 24” per interfaccia utente e software Pro Suite
  • Campo d'ingrandimento: 160-200.000x
  • Risoluzione: <10nm
  • CCD camera a colori integrata per la navigazione sul campione: 3-16X
  • Campo di elementi rilevabili: B-Am
  • Sorgente di lunga durata ed elevata luminosità (CeB6)
  • Backscatter detector con modalità composizionale o topografica
  • Campo di voltaggio: nel range tra 4,8 kV e 20,5 kV con selezione in continuo
  • Caricamento del campione in meno di 40 secondi (5 secondi per la camera ottica)
  • Formato delle immagini: jpg, tiff, png
  • Risoluzione delle immagini: fino a 7680 x 4800
  • Dimensione del campione ed area scansionabile: max. 100 mm x 100 mm (fino a 36 stub da 12mm)
  • Stage motorizzato x, y
  • Unica Working Distance (WD) per acquisizione immagini ad alta risoluzione ed analisi EDS
Opzioni:
  • Secondary electron detector (SED)
Specifiche del software AM:
  • Possibilità di analizzare parametri dimensionali e morfologici come: diametro minimo e massimo, perimetro, aspet ratio, rugosità, diametro di feret etc.
  • Istogrammi di Particle Size Distribution sia in base numero che in volume
  • Possibilità di esprimere i valori in termini di d10, d50 e d90
  • Disponibilità di ricette che permettono di differenziare tra particelle sferiche, con satelliti o deformate
  • Spettro EDX di ciascuna delle particelle analizzate
  • Possibilità di rivisitare ogni singola particella
Specifiche del software TC:
  • Template per analisi precaricati
  • Reportistica in accordo alla ISO 16232 ed alla VDA-19
  • Possibilità di rivisitare ogni singola particella
     

L'uso del SEM accoppiato all'EDS per l'analisi automatizzata di polveri e filtri

Scopri l'utilizzo del software ParticleX che permette di ottenere informazioni su dimensione, forma e composizione di particelle con applicazioni nel mondo dell'Additive Manufacturing o del Technical Cleaniness.. Iscriviti al webinar!


L'uso del SEM accoppiato all'EDS per l'analisi automatizzata di polveri e filtri

Il SEM con EDS accoppiato ad un software d'immagine è uno strumento molto potente che permette l'analisi di polveri e filtri in maniera completamente automatizzata.
In questo webinar approfondiremo l'utilizzo del software ParticleX che permette di ottenere informazioni su dimensione, forma e composizione di particelle con applicazioni nel mondo dell'Additive Manufacturing o del Technical Cleaniness.

Richiedi informazioni sul prodotto

Ho letto e compreso la Privacy Policy

 Accetto il trattamento dei dati per l'invio di informative tecniche e inviti agli eventi.